什么是表面分析？

  表面分析是對(duì)固體表面或界面上只有幾個(gè)原子層厚的薄層進(jìn)行組分、結(jié)構(gòu)和能態(tài)等分析的材料物理試驗(yàn)。也是一種利用分析手段，揭示材料及其制品的表面形貌、成分、結(jié)構(gòu)或狀態(tài)的技術(shù)。針對(duì)含有涂層或鍍層的產(chǎn)品進(jìn)行化學(xué)成分分析和物理性能測(cè)試，以及對(duì)在生產(chǎn)過(guò)程中產(chǎn)品表面被污染、腐蝕和氧化等形成的異物進(jìn)行形貌觀察、化合物鑒定等。所涉及的對(duì)象有電子電器、汽車、金屬配件、鐘表、通訊產(chǎn)品等。

昂貴的表面分析檢測(cè)儀器-XPS.AES

 X射線光電子能儀（XPS）利用光電效應(yīng)的原理，測(cè)量X射線激發(fā)出的光電子能量和計(jì)數(shù)，對(duì)樣品表面幾個(gè)納米深度范圍內(nèi)進(jìn)行半定量的成分和化學(xué)態(tài)分析。俄歇電子能譜儀利用電子激發(fā)出的俄歇電子，對(duì)表面進(jìn)行微區(qū)的成分和化學(xué)態(tài)分析。XPS和AES結(jié)合離子濺射還可以對(duì)多層膜等樣品進(jìn)行深度剖析，測(cè)得每層的成分、化學(xué)態(tài)以及相應(yīng)的厚度。

測(cè)試范圍

除H和He之外的所有元素   分析深度約5納米（AES約3納米）

檢測(cè)下限約0.1%      空間分辨率約30微米（AES約10nm）

服務(wù)項(xiàng)目

各種固體表面的元素成分、化學(xué)價(jià)態(tài)、分子結(jié)構(gòu)分析和深度剖析等。

 由于這套設(shè)備的精密度極高，所以價(jià)格非常昂貴。國(guó)內(nèi)擁有這套設(shè)備的實(shí)驗(yàn)室為數(shù)不多。微測(cè)檢測(cè)合作的實(shí)驗(yàn)室，是國(guó)內(nèi)專業(yè)的材料檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室，擁有國(guó)內(nèi)先進(jìn)的檢測(cè)設(shè)備，專業(yè)辦理材料檢測(cè)、成分分析、表面分析、配方分析等，服務(wù)過(guò)的企業(yè)有華為、中興、BYD等大型企業(yè)。

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